華為公開(kāi)“學(xué)位資源預(yù)測(cè)方法”專利

　　2月2日，華為技術(shù)有限公司公開(kāi)了名為“學(xué)位資源預(yù)測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和芯片”發(fā)明專利，該專利公開(kāi)號(hào)為“CN112308263A”。

　　專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N學(xué)位資源預(yù)測(cè)的方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和芯片，涉及計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域。其中，該學(xué)位資源預(yù)測(cè)方法包括：從存儲(chǔ)器獲取預(yù)測(cè)區(qū)域的學(xué)位資源預(yù)測(cè)參數(shù)，并根據(jù)預(yù)設(shè)的學(xué)位資源預(yù)測(cè)模型對(duì)該預(yù)測(cè)區(qū)域的學(xué)位資源預(yù)測(cè)參數(shù)進(jìn)行處理，得到預(yù)測(cè)區(qū)域的學(xué)位資源需求信息，然后再呈現(xiàn)預(yù)測(cè)區(qū)域的學(xué)位資源需求信息。其中，上述學(xué)位資源預(yù)測(cè)參數(shù)包括人口數(shù)據(jù)、教育數(shù)據(jù)、經(jīng)濟(jì)發(fā)展數(shù)據(jù)和就業(yè)數(shù)據(jù)中的至少一種。本申請(qǐng)中通過(guò)包含多種參數(shù)的學(xué)位資源預(yù)測(cè)參數(shù)來(lái)確定預(yù)測(cè)區(qū)域的學(xué)位資源需求情況，能夠更好地進(jìn)行學(xué)位資源的預(yù)測(cè)，提高學(xué)位資源預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。